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氮化物外延基板

氮化镓(GaN)是一种用于下一代功率半导体和高频设备的宽带隙材料。本公司的氮化镓外延基板具有独特的缓冲层,在硅基板上同时实现了高耐电压性和良好的平整性。(硅基氮化镓HEMT外延基板)

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我们承接以研发用途为主的外延生长委托业务。


针对p-GaN顶层、AlGaN DH结构等层状结构,以及在碳化硅(SiC)等其他基板上的外延生长,我们也将根据客户需求探讨承接方案。

用途(硅基氮化镓HEMT外延基板)
高功率半导体用途:逆变器、AC/DC转换器
高频设备用途:用于手机基站
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空调等的逆变器 用于手机基站等的高频设备
产品特点(硅基氮化镓HEMT外延基板)
高耐电压(1000V)和低漏电(1E-6A)
无裂纹
良好的翘曲度(Bow<50μm)
衬底尺寸(3、4、6英寸)
支持厚膜(4.8μm)
p-GaN盖层、AlGaN DH结构
产品特性(硅基氮化镓HEMT外延基板)
Standard HEMT Structure
Layer Composition Thickness x
4 GaN 1nm  
3 AlxGa1-xN 30nm 0.25
2 GaN 1500nm  
1 Buffer 3300nm  
Substrate Si 625um  
Substrate
Material Silicon
Orientation <111>
Crystal growth method CZ
Type p type
Size(inch) 3,4,6
Thickness(um) 625 or 675
Backside rough
Electrical properties
Hall measurement Typical value
Sheet resistance (ohm/sq) 400
Carrier density(cm^2) 1.00E+13
Mobility(cm^2/ 1500
Vertical/Horizontal leak current
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Notes
・推荐用途:电源开关装置
 ・例举的数值和特性为典型值。
 ・我们可以根据您的需求调整结构和特性。
 ・另可应对p-GaN盖层和AlGaN缓冲结构。
产品特性(氮化铝模板)
Substrate: c-plane sapphire
Crystal Structure of AlN Epitaxial Layer: wurtzite
Diameter: 50.8 mm ± 0.25 mm (typical)
Thickness of Substrate: 430 μm ± 25 μm (typical)
Thickness of AlN Epitaxial Layer: 1 μm ± 0.3 μm (typical)
Surface: c-plane AlN, as grown effective area < 40 mmΦ (typical) no cracks by a visual inspection.
Backside: rough
FWHM of X-ray ω-scan rocking curve: < 150 arcsec for (0002) (typical)
Conductivity: insulating
Packing: packaged fluoroware container and vacuum-packed.
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